TOKYO PACK 2014へのご来場ありがとうございました

今回も非常に多くのお客様にお立ち寄り頂きまして、誠にありがとうございました。
校正・刷出し検版システムの「NaviScan-A1/A0/B0」「NaviScan-A3」を中心に、ロールラベル検査装置「NaviLab-Lite」及び「NaviLab-HST」、枚葉ラベル・カード・シート検査装置「NaviCon-II」、カード専用高速検査装置「NaviCa-Lite-MF」を展示致しました。

お話しをさせて頂きましたお客様には、再度詳しい商品説明のため近いうちにご連絡する予定です。また、ご来場できなかったお客様やより詳しく製品をご覧になりたいお客様は弊社までお気軽にご連絡頂ければ幸いです。この夏にリリース致しました「NaviLab-HST」をはじめ、グレードアップした弊社独自開発の検査ソフトウェア「ナビタスチェッカーNC-FLX」、標準簡易操作パネル「NEO」等、充実した製品ラインナップでお客様に適した検査装置・検査システムをご提案しております。ご来社お待ちしております。